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【国家标准】 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

本网站 发布时间： 2019-05-01
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适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 11685-2003

  • 标准名称：

    半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

  • 英文名称：

    Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2003-07-07

  • 实施日期：

    2004-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    27.120.01

  • 中标分类号：

    F80

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    32 页

  • 字数：

    54 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    熊正隆

  • 起草单位：

    核工业标准化研究所

  • 归口单位：

    核工业标准化研究所

  • 提出部门：

    全国核仪器仪表标准化技术委员会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
  • 其它标准
  • 推荐标准

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