【国家标准】光学和光子学　光学薄膜　第4部分：规定的试验方法

本网站发布时间： 2016-07-01

GB/T 26332.4-2015
现行
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标准简介

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适用范围：

GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法，但不拟用于规定镀制方法。本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法，这些方法在GB/T 12085-2010标准中没有描述。这些方法通常与GB/T 26332.3-2015附录A中的测试方法组成试验序列共同使用。本部分不适用于眼科光学（眼镜）的光学薄膜。

基本信息

标准号：
GB/T 26332.4-2015
标准名称：
光学和光子学　光学薄膜　第4部分：规定的试验方法
英文名称：
Optics and photonics—Optical coatings—Part 4:Specific test methods
标准状态：
现行
发布日期：
2015-12-10
实施日期：
2016-07-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
17.180
中标分类号：
N30

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《光学和光子学　光学薄膜　第4部分：规定的试验方法》(英文版) IDT 等同采用

出版信息

页数：
20 页
字数：
26 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
王瑞生、费书国、阴晓俊、王占山、程鑫彬、赵帅锋、马敬、章岳光、顾培夫、孙龙、胡雯雯、邓淞文、王锋、徐秋玲、殷波、高鹏、王忠连
起草单位：
沈阳仪表科学研究院有限公司、同济大学、浙江大学、大连化学物理研究所、沈阳汇博光学公司、杭州科汀光学技术有限公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心
归口单位：
中国机械工业联合会
提出部门：
中国机械工业联合会
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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