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【国家标准】 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

本网站 发布时间： 2014-02-11
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适用范围：

本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片（以下简称“基片”）的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 14620-2013

  • 标准名称：

    薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

  • 英文名称：

    Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2013-11-12

  • 实施日期：

    2014-04-15

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.030

  • 中标分类号：

    L90

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    22 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    曹易、李晓英

  • 起草单位：

    中国电子技术标准化研究院

  • 归口单位：

    中国电子技术标准化研究院

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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