- 您的位置:
- 快3网下载安装到手机 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L56 >>
- GB/T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

【国家标准】 半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
本网站 发布时间:
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>

文前页下载
适用范围:
本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。
同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值。
读者对象:
从事半导体器件和集成电路设计、生产、检测的科研技术人员。
标准号:
GB/T 17574.20-2006
标准名称:
半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
英文名称:
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-20:Digital integrated circuits—Family specification—Low voltage integrated circuits标准状态:
现行-
发布日期:
2006-12-05 -
实施日期:
2007-05-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- GB/T 44924-2024 半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
- GB/T 44798-2024 复杂集成电路设计保证指南
- GB/T 44801-2024 系统级封装(SiP)术语
- GB/T 44806.1-2024 集成电路 收发器的EMC评估 第1部分:通用条件和定义
- GB/T 6648-1986 半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用)
- GB/T 17864-1999 关键尺寸(CD)计量方法
- GB/T 17865-1999 焦深与最佳聚焦的测量规范
- GB/T 17866-1999 掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
- GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
- GB/T 20870.10-2023 半导体器件 第16-10部分:单片微波集成电路技术可接收程序
- GB/T 20870.4-2024 半导体器件 第16-4部分:微波集成电路 开关
- GB/T 20870.5-2023 半导体器件 第16-5部分:微波集成电路 振荡器
- GB/T 42835-2023 半导体集成电路 片上系统(SoC)
- GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
- GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法