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【国家标准】 扫描探针显微镜漂移速率测量方法

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标准简介标准简介

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适用范围：

本标准规定了SPM漂移速率的术语和定义、缩略语、测量步骤、性能参数规格，及基于SPM扫描图像的漂移速率测量基本方法。
本标准适用于0.01 nm/s到10 nm/s的漂移速率测量。本标准中的漂移测量不适用于图像校正。

读者对象：

使用扫描探针显微镜进行测量工作的技术人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 29190-2012

  • 标准名称：

    扫描探针显微镜漂移速率测量方法

  • 英文名称：

    Measurement methods of drift rate of scanning probe microscope

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2012-12-31

  • 实施日期：

    2013-06-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    17.180.99

  • 中标分类号：

    A60

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    31 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    黄文浩、陈宇航、李源、傅云霞、褚家如、李家文、牛顿、朱五林、刘一

  • 起草单位：

    中国科学技术大学、上海市计量测试技术研究院

  • 归口单位：

    全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)

  • 提出部门：

    中国科学院

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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