【国家标准】半导体器件　机械和气候试验方法　第3部分：外部目检

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标准简介

GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

全国从事半导体器件工作的工作人员与标准化人员

标准号：
GB/T 4937.3-2012
标准名称：
半导体器件　机械和气候试验方法　第3部分：外部目检
英文名称：
Semiconductor devices—Mechanical and climatic tests methods—Part 3:External visual examination
标准状态：
现行
发布日期：
2012-11-05
实施日期：
2013-02-15
出版语种：
中文简体

【国家标准】 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检