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【团体标准】 阻变存储单元电学测试规范

本网站 发布时间： 2023-10-27
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适用范围：

本文件规定了阻变存储单元擦写、耐久性和数据保持等测试方法。
本文件适用于阻变存储器器件的测试。
本文件不适用于包含外部驱动电路的存储单元。

基本信息

  • 标准号：

    T/CIE 148-2022

  • 标准名称：

    阻变存储单元电学测试规范

  • 英文名称：

    Resistive memory cell electrical parameter test sepcification

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2022-12-31

  • 实施日期：

    2023-01-31

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L05

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    19 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    雷登云、韦覃如、张锋、高汭、许晓欣、来萍、黄云、黄鹏、杨东、王力纬、侯波、曲晨冰、孙宸、刘远

  • 起草单位：

    工业和信息化部电子第五研究所、广东工业大学、中国科学院微电子研究所、北京大学、黄河科技学院

  • 归口单位：

    中国电子学会可靠性分会

  • 提出部门：

    中国电子学会可靠性分会

  • 发布部门：

    中国电子学会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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