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【国家标准】 集成电路　电磁发射测量　第4部分：传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法

本网站 发布时间： 2025-01-22
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适用范围：

本文件规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150 Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 44937.4-2024

  • 标准名称：

    集成电路　电磁发射测量　第4部分：传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法

  • 英文名称：

    Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4:Measurement of conducted emissions—1 Ω/150 Ω direct coupling method

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2024-12-31

  • 实施日期：

    2024-12-31

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L56

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《集成电路　电磁发射测量　第4部分:传导发射测量　1 Ω/150 Ω直接耦合法》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    40 页

  • 字数：

    65 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    崔强、付君、乔彦彬、方文啸、吴建飞、邢立文、朱赛、刘星汛、李腾飞、李彬鸿、王少启、谢玉章、胡小军、黄雪梅、邵鄂、李楠、周雷、杨红波、颜伟、周香、刘洋、陈勇志、张红丽

  • 起草单位：

    中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、南京容测检测技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、北京无线电计量测试研究所、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国科学院微电子研究所、安徽省计量科学研究院、苏州泰思特电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、江苏省计量科学研究院、扬芯科技(深圳)有限公司、南京师范大学、东南大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、广州致远电子有限公司

  • 归口单位：

    全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    快3网下载安装到手机 、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
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