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【国家标准】 微束分析　扫描电镜　图像放大倍率校准导则

本网站 发布时间： 2021-04-01
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标准简介标准简介

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适用范围：

本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。
本标准限于对由参考物质上线距大小的范围所决定的放大倍率进行校准。
本标准不适用于专用测长型扫描电镜。

读者对象：

从事扫描电镜的设计、研制、生产的工程技术、科研和管理人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 27788-2011

  • 标准名称：

    微束分析　扫描电镜　图像放大倍率校准导则

  • 英文名称：

    Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    2011-12-30

  • 实施日期：

    2012-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    37.020

  • 中标分类号：

    N32

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《微束分析　扫描电镜　图像放大倍率校准导则》（英文版） IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    30 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    陈振宇、周剑雄、李香庭、杨勇骥

  • 起草单位：

    中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所、上海第二军医大学

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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