【国家标准】硅片字母数字标志规范

本网站发布时间： 2018-07-02

GB/T 34479-2017
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范，包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。注：字母数字标志及关联信息存入数据库，可被简单的自动光学字符读数（OCR）仪或人工进行独立、快速识别，确保晶片制造商对晶片标记的一致性。

基本信息

标准号：
GB/T 34479-2017
标准名称：
硅片字母数字标志规范
英文名称：
Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
标准状态：
现行
发布日期：
2017-10-14
实施日期：
2018-07-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
29.045
中标分类号：
H80

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
16 页
字数：
22 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
张静、孙燕、边永智、楼春兰
起草单位：
有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 (SAC/TC 203/SC 2)
提出部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 (SAC/TC 203/SC 2)
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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