【国家标准】半导体器件　机械和气候试验方法　第13部分：盐雾

本网站发布时间： 2019-01-02

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标准简介

GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。
本试验是破坏性试验。
本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准号：
GB/T 4937.13-2018
标准名称：
半导体器件　机械和气候试验方法　第13部分：盐雾
英文名称：
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13:Salt atmosphere
标准状态：
现行
发布日期：
2018-09-17
实施日期：
2019-01-01
出版语种：
中文简体

【国家标准】 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾