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【国家标准】 电子数显测高仪

本网站 发布时间：
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适用范围：

本标准规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1 μm、0.2 μm、0.5 μm和1 μm，量程不超过1 000 mm的电子数显测高仪（以下简称“测高仪”）。

读者对象：

电子数显测高仪的设计、生产及检验者。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 22094-2008

  • 标准名称：

    电子数显测高仪

  • 英文名称：

    Height measuring instrument with electronic digital display

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2008-06-25

  • 实施日期：

    2009-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    17.040.30

  • 中标分类号：

    J42

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    10 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    李维国、姜志刚、唐以杰、何东星、王春

  • 起草单位：

    成都工具研究所、马尔精密量仪(苏州)有限公司

  • 归口单位：

    全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC 132)

  • 提出部门：

    中国机械工业联合会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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