【国家标准】太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化　测试方法

本网站发布时间： 2014-09-24

GB/T 30869-2014
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量，分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下，本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。

基本信息

标准号：
GB/T 30869-2014
标准名称：
太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化　测试方法
英文名称：
Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
标准状态：
现行
发布日期：
2014-07-24
实施日期：
2015-02-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
77.040
中标分类号：
H21

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
12 页
字数：
12 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓
起草单位：
东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
提出部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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