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ASTM F1996-14 Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry (Withdrawn 2023)

【国外标准】 Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry (Withdrawn 2023)

本网站发布时间： 2024-02-28

ASTM F1996-14
Withdrawn, No replacement
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标准简介

适用范围：

4.1 The effects of silver migration are short circuiting or reduction in insulation resistance. It is evidenced by staining or dicoloration between the cathode and anode conductive traces.4.2 Accelerated testing may be accomplished by increasing the voltage over the specified voltages. (A typical starting point would be 5Vdc 50mA).1.1 This test method is used to determine the susceptibility of a membrane switch to the migration of the silver between circuit traces under dc voltage potential.1.2 Silver migration will occur when special conditions of moisture and electrical energy are present.

基本信息

标准号：
ASTM F1996-14
标准名称：
Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry (Withdrawn 2023)
英文名称：
Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry (Withdrawn 2023)
标准状态：
Withdrawn, No replacement
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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