开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

标准详细信息 去购物车结算

【国家标准】 硅外延层堆垛层错密度测定　干涉相衬显微镜法

本网站 发布时间：
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

文前页下载

适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 14145-1993

  • 标准名称：

    硅外延层堆垛层错密度测定　干涉相衬显微镜法

  • 英文名称：

    Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy

  • 标准状态：

    废止

  • 发布日期：

    1993-02-06

  • 实施日期：

    1993-10-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    29.040.30

  • 中标分类号：

    H24

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    NEQ 非等效采用

出版信息

  • 页数：

    8 页

  • 字数：

    6 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    林敏敏、夏锦禄

  • 起草单位：

  • 归口单位：

  • 提出部门：

    中国有色金属工业总公司

  • 发布部门：

    国家技术监督局
  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究

Baidu
map