【国际标准】 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

本网站发布时间： 2025-01-04

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标准简介

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标准号：
IEC 62047-35:2019 EN-FR
标准名称：
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
英文名称：
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
标准状态：
现行
发布日期：
2019-11-22
实施日期：
出版语种：
EN-FR

IEC 62047-35:2019 EN-FR