【团体标准】半导体器件间歇工作寿命试验设备

本网站发布时间： 2024-02-02

T/ZZB Q063-2022
现行
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标准简介

适用范围：

本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于验证SiGaNSiC材料任意封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等半导体功率器件的使用寿命，进行加速失效分析间歇工作寿命的试验设备。

基本信息

标准号：
T/ZZB Q063-2022
标准名称：
半导体器件间歇工作寿命试验设备
英文名称：
Intermittent working life test equipment for semiconductor devices
标准状态：
现行
发布日期：
2022-10-14
实施日期：
2022-10-20
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
17.040.30
中标分类号：
L87

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
胡久恒、代凯旋、周恺超、史少礼、许静、连加俤、和巍巍、罗皓泽、钱清友、邹光炜、潘子升、夏姚忠、丁兆达、王永乐、李俊
起草单位：
杭州高坤电子科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、浙江大学电气工程学院、士兰微电子股份有限公司、捷捷半导体有限公司、上海季丰电子股份有限公司、北京中科新微特科技开发股份有限公司、杭州电子科技大学、中国计量大学
归口单位：
浙江省质量协会
提出部门：
浙江省质量协会
发布部门：
浙江省质量协会

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