【国家标准】电子学特性测量　超导体在微波频率下的表面电阻

本网站发布时间： 2018-10-08

GB/T 22586-2018
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：--频率：8 GHz<f<30 GHz；--测试分辨率：0.01 mΩ（f = 10 GHz）。测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用RS ∝ f 2的关系折合到10 GHz的值。

基本信息

标准号：
GB/T 22586-2018
标准名称：
电子学特性测量　超导体在微波频率下的表面电阻
英文名称：
Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
标准状态：
现行
发布日期：
2018-03-15
实施日期：
2018-10-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
77.040.99
中标分类号：
H21

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《超导电性　第7部分：电子学特性测量　超导体在微波频率下的表面电阻》 MOD 修改采用

出版信息

页数：
36 页
字数：
64 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
曾成、罗正祥、补世荣、魏斌、吉争鸣、孙亮
起草单位：
电子科技大学、清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所
归口单位：
全国超导标准化技术委员会(SAC/TC 265)
提出部门：
中国科学院
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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