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【国家标准】 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法

本网站 发布时间: 2018-05-02
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适用范围:

本标准规定了拉曼光谱法测定微机电系统(MEMS)结构表面残余应力、相对静态应力、相对动态应力的方法。本标准适用于微机电系统(MEMS)结构表面残余应力、相对静态应力、相对动态应力的拉曼光谱法测试。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 34899-2017

  • 标准名称:

    微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法

  • 英文名称:

    Micro-electromechanical system technology—Measuring method of microstructure surface stress based on Raman spectroscopy
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2017-11-01
  • 实施日期:

    2018-05-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    31.200
  • 中标分类号:

    L55

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

出版信息

  • 页数:

    16 页
  • 字数:

    26 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    石云波、唐军、程红兵、崔建功、李海斌、朱悦
  • 起草单位:

    中北大学、中机生产力促进中心
  • 归口单位:

    全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
  • 提出部门:

    全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
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