【国家标准】采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

本网站发布时间： 2016-11-01

GB/T 32651-2016
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的方法。本标准适用于太阳能级硅材料中痕量元素的测定，其中铁（Fe）、铬（Cr）、镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）、硼（B）、磷（P）、钙（Ca）、钠（Na）、镁（Mg）、铝（Al）、砷（As）、钪（Sc）、钛（Ti）、钒（V）、锰（Mn）、钴（Co）、镓（Ga）等元素的测定范围为5 μg/kg～50 mg/kg。本方法适用于分析多种物理形态的以及添加任何种类和浓度掺杂剂的硅材料，例如多晶硅粉末、颗粒、块、锭、片和单晶硅棒、块、片等。

基本信息

标准号：
GB/T 32651-2016
标准名称：
采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
英文名称：
Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
标准状态：
现行
发布日期：
2016-04-25
实施日期：
2016-11-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
29.045
中标分类号：
H82

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
16 页
字数：
20 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
何莉、吴建国、王琴、周滢、刘晓霞、鲁文锋、陈进、封丽娟、李建德、黄雪雯、孙绍武、冯亚彬、裴会川
起草单位：
国家太阳能光伏产品质量监督检验中心(无锡市产品质量监督检验中心)、江苏中能硅业科技发展有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、中国电子技术标准化研究院
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
提出部门：
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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