- 您的位置:
- 快3网下载安装到手机 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L56 >>
- GB/T 35004-2018 数字集成电路 输入/输出电气接口 模型规范
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>

文前页下载
适用范围:
为了给设备的电气特性分析提供标准,需要考虑以下条目从而使得集成电路的输入信号、输出信号、电源、地端口的电气模型标准化:a)〓在已有标准基础上进行标准化以解决目前存在的问题以及扩大分析能力。b)〓为电子电路定义更多灵活的描述规则,以提供更准确的PCB分析。c)〓引入建模等级概念,为每一个应用提供相关数据。d)〓完善封装和模块的电气模型。
标准号:
GB/T 35004-2018
标准名称:
数字集成电路 输入/输出电气接口 模型规范
英文名称:
Logic digital integrated circuits—Specification for I/O interface model for integrated circuit标准状态:
现行-
发布日期:
2018-03-15 -
实施日期:
2018-08-01 出版语种:
中文简体
- 其它标准
- 推荐标准
- GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种
- GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范
- GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范
- GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法
- GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
- GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
- GB/T 42835-2023 半导体集成电路 片上系统(SoC)
- GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
- GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
- GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义
- GB/T 42968.2-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法
- GB/T 42968.4-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法
- GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法
- GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法