- 您的位置:
- 快3网下载安装到手机 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- H80 >>
- GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>

文前页下载
适用范围:
本标准规定了硅片订货单的格式要求和使用。本标准适用于硅单晶研磨片、硅单晶抛光片、硅单晶外延片、太阳能电池用硅单晶切割片、太阳能电池用多晶硅片的订货单格式,其他半导体材料的订货单可参照本标准执行。
标准号:
GB/T 32279-2015
标准名称:
硅片订货单格式输入规范
英文名称:
Specification for order entry format of silicon wafers标准状态:
现行-
发布日期:
2015-12-10 -
实施日期:
2017-01-01 出版语种:
中文简体
起草人:
朱兴萍、楼春兰、戴文仙、毛卫中、赵纪平、王飞尧、马林宝、孙燕、李慎重、林清香、杨素心、邹剑秋起草单位:
万向硅峰电子股份有限公司、浙江省硅材料质量检验中心、杭州海纳半导体有限公司、南京国盛电子有限公司、有研新材料股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)提出部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)发布部门:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
- 推荐标准
- GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
- GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱
- GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范
- GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范
- GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
- GB/T 4061-2009 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
- GB/T 29057-2023 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
- GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
- GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
- GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范
- GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
- GB/T 24576-2009 高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
- GB/T 24577-2009 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
- GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定 多晶硅表面金属污染物