
【国家标准】 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰
本网站 发布时间:
2020-11-02
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>

文前页下载
适用范围:
GB/T 5095的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方法进行试验。本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式,以及评定来自所有其他端口的全部外来串扰。本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器,尤其适用于IEC 60603-7系列和IEC 61076-3-104中所叙述的连接器,以及用于数据传输的其他类型连接器。
标准号:
GB/T 5095.2509-2020
标准名称:
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰
英文名称:
Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-9:Signal integrity tests—Test 25i:Alien crosstalk标准状态:
现行-
发布日期:
2020-04-28 -
实施日期:
2020-11-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则
- GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验
- GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性
- GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比
- GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
- GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗
- GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动
- GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验
- GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验
- GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
- GB/T 17562.1-1998 频率低于3MHz的矩形连接器 第1部分:总规范一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则
- GB/T 17562.8-2002 频率低于3MHz的矩形连接器 第8部分:具有4个信号接触件和电缆屏蔽用接地接触件的连接器详细规范
- GB/T 18501.2-2001 直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器 第2部分:有质量评定的圆形连接器分规范
- GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范
- GB/T 13536-2018 飞机地面供电连接器