- 您的位置:
- 快3网下载安装到手机 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L40 >>
- GB/T 4587-2023 半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>

文前页下载
适用范围:
本文件给出了下列几种类型双极型晶体管(微波晶体管除外)的有关要求:--小信号晶体管(开关和微波用除外);--线性功率晶体管(开关、高频和微波用除外);--放大和振荡用高频功率晶体管;--高速开关和电源开关用开关晶体管;--电阻偏置晶体管。
标准号:
GB/T 4587-2023
标准名称:
半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管
英文名称:
Semiconductor devices—Discrete devices—Part 7:Bipolar transistors标准状态:
现行-
发布日期:
2023-09-07 -
实施日期:
2024-04-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
- GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则
- GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾
- GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)
- GB/T 4937.15-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热
- GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照
- GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐射(总剂量)
- GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度
- GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
- GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性
- GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)
- GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)
- GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
- GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
- GB/T 4937.34-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环