【国外标准】 반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법 — 제4부: 가습 가열, 평형 상태,가속 스트레스 시험

本网站发布时间： 2024-10-15

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标准简介

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标准号：
KS C IEC 60749-4
标准名称：
반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법 — 제4부: 가습 가열, 평형 상태,가속 스트레스 시험
英文名称：
Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 4: Damp heat, steady state,highly accelerated stress test(HAST)
标准状态：
现行
发布日期：
2020-07-23
实施日期：
出版语种：

KS C IEC 60749-4