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【国家标准】 声表面波(SAW)器件用单晶晶片　规范与测量方法

本网站 发布时间： 2014-03-20
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适用范围：

本标准规定了人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片等。
本标准适用于人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 30118-2013

  • 标准名称：

    声表面波(SAW)器件用单晶晶片　规范与测量方法

  • 英文名称：

    Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications—Specifications and measuring methods

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2013-12-17

  • 实施日期：

    2014-05-15

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.140

  • 中标分类号：

    L21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》 MOD 修改采用

出版信息

  • 页数：

    36 页

  • 字数：

    56 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    张小梅、蒋春健、吴兆刚、吴剑波、赵雄章、周洋舟

  • 起草单位：

    中国电子科技集团第二十六研究所、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技有限公司

  • 归口单位：

    全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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