【团体标准】现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范

本网站发布时间： 2023-10-27

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标准简介

本文件规定了FPGA芯片时序可靠性测试，包含了硬核IP、接口IP、互联等模块的时序可靠性评估方法。
本文件适用于FPGA的提供者、使用者和第三方评价FPGA芯片的时序可靠性。
注：第三方是指在FPGA芯片交付过程中进行认证和提供鉴定、试验等服务的独立机构。

标准号：
T/CIE 150-2022
标准名称：
现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范
英文名称：
Timing reliability test specification of field programmable gate array(FPGA)
标准状态：
现行
发布日期：
2022-12-31
实施日期：
2023-01-31
出版语种：
中文简体

起草人：
雷登云、余永涛、杨东、曲晨冰、孙宸、夏益民、王力纬、侯波、来萍、张洋洋、郭海松、刘远、廖步彪、冯成燕、周奇、袁智皓、唐伟东、王文锋、俞剑
起草单位：
工业和信息化部电子第五研究所、黄河科技学院、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司、成都华微电子科技股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、上海安路信息科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、中国航天科技集团第九研究院第772研究所、上海复旦微电子集团股份有限公司
归口单位：
中国电子学会可靠性分会
提出部门：
中国电子学会可靠性分会
发布部门：
中国电子学会

【团体标准】 现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范