【国际标准】 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

本网站发布时间： 2025-01-04

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标准简介

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标准号：
IEC 63068-1:2019 EN
标准名称：
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
英文名称：
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
标准状态：
现行
发布日期：
2019-01-30
实施日期：
出版语种：
EN

IEC 63068-1:2019 EN