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【国家标准】 半导体集成电路　霍尔电路测试方法

本网站 发布时间： 2023-12-01
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适用范围：

本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 42838-2023

  • 标准名称：

    半导体集成电路　霍尔电路测试方法

  • 英文名称：

    Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-08-06

  • 实施日期：

    2023-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L56

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    27 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广

  • 起草单位：

    中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    快3网下载安装到手机 、国家标准化管理委员会
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