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【地方标准】 集成电路测试用微波探针应用规范

本网站 发布时间： 2024-12-27
  • DB51/T 3207-2024
  • 现行
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标准简介标准简介

适用范围：

本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用

基本信息

  • 标准号：

    DB51/T 3207-2024

  • 标准名称：

    集成电路测试用微波探针应用规范

  • 英文名称：

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2024-12-03

  • 实施日期：

    2024-12-29

  • 出版语种：

标准分类号

  • 标准ICS号：

    17.220

  • 中标分类号：

    L86

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

    刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第九研究所

  • 归口单位：

    四川省经济和信息化厅

  • 提出部门：

  • 发布部门：

  • 其它标准
  • 推荐标准

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