IEC 60749-8:2002 EN-FR 669c6bd9
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
现行
发布日期 :
2002-08-30
实施日期 :
IEC 61975:2010 EN-FR 2ed882e4
High-voltage direct current (HVDC) installations - System tests
现行
发布日期 :
2010-07-29
实施日期 :
IEC TR 63133:2017 EN c19862da
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
现行
发布日期 :
2017-10-11
实施日期 :
IEC 60191-2:1966 EN-FR f4ef1e43
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2: Dimensions
现行
发布日期 :
1966-01-01
实施日期 :